为进一步满足市场对850nm波段光器件精准测量的需求，昊衡科技FLA系列光纤链路分析仪拓展850nm测量新波段，为多模光纤链路、850nm光器件及芯片级样品提供一套更高效、更全面的检测解决方案。
FLA系列光纤链路分析仪
850nm波段的高性能测量
产品参数如下：
测量长度：500m
空间分辨率：2mm
中心波长：850nm
回损动态范围：70dB
回损重复精度：±0.5dB
插损动态范围：15dB
插损重复精度：±0.2dB
单次测量时间：＜15s
（支持定制200微米空间分辨率，测量长度50米的型号，详情可联系我司咨询）
多元应用场景，赋能产业全环节
光器件精准测试：可对500米内的850nm光器件进行精确的长度定位以及插损、回损一体化测试，为器件性能评估提供可靠数据。
分布式链路诊断与失效分析：能够对整条850nm多模光纤链路进行分布式测量，快速定位并分析连接点、断裂点、弯曲损耗等故障或性能劣化点。
全面支持多模光纤：支持850nm窗口的多模光纤测量，确保结果的准确性与可靠性。
芯片级高精度定制方案：针对前沿科研与高端制造可提供50米内200微米超高空间分辨率的定制型号，专攻850nm波段芯片级样品的精密测量。
昊衡科技FLA光纤链路分析仪本次850nm波段拓展，实现了从常规到特殊光纤链路的需求覆盖。无论是通信工程、光器件生产，还是科研领域的高精度检测，都能提供稳定、精准、高效的测量支持，为用户创造更高检测价值。
